Séminaire - Invité : David Sheeren - "Cartographier les haies d'hier et d'aujourd'hui : une diversité de sources disponibles et de nouveaux outils associés"

Événement à venir
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Premiers résultats de reconnaissance automatique de la couverture arborée dans les images anciennes par apprentissage profond et illustration d’indicateurs LiDAR pour rendre compte de la structure des haies et leur diversité.

17 octobre 2025
10h 12h
Faculté de Géographie, Salle 006

Cartographier les haies d'hier et d'aujourd'hui : une diversité de sources disponibles et de nouveaux outils associés

David Sheeren, École Nationale Supérieure Agronomique de Toulouse, Département "Sciences de l'Ingénieur et du Numérique" 
UMR 1201 DYNAFOR INRAE / INP-ENSAT / EI Purpan

 

La mise à disposition des données IGN, qu’elles soient récentes (LiDAR HD, MNS photogrammétriques) ou anciennes (orthophotographies historiques) ouvrent de nombreuses perspectives pour cartographier les arbres hors forêt et les haies champêtres, évaluer leur multifonctionnalité et suivre leur évolution. Dans cet exposé, nous donnerons à voir « la science en train de se faire » avec des premiers résultats de reconnaissance automatique de la couverture arborée dans les images anciennes par apprentissage profond ainsi qu’une illustration d’indicateurs LiDAR pour rendre compte de la structure des haies et leur diversité. Ces travaux s’inscrivent dans le développement d’une boîte à outil spécifique à la caractérisation du bocage - HedgeTools – qui a vocation à centraliser des méthodes pour faciliter l’évaluation de la qualité écologique des haies et les services écosystémiques qu’elles fournissent.

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